edx熒光光譜分析(1) 如果配了液體樣品分析裝置，可以直接測量；沒有的話，可以采取間接的方法，比如把樣品吸附到濾紙上測量等等(2) 先的有標(biāo)準(zhǔn)，一般鹵水的K、Na、Ca、Mg比較高，要稀釋。放入塑料杯，下部有幾微米的塑料膜，而且用上照射，無須抽真空的XRF。(3) 有兩種方法：1.用液體樣杯進(jìn)行測量。2.用濾紙進(jìn)行測量。

edx熒光光譜分析(1) 目前能量色散的光譜儀的從鈉開始(2) 波長色散型，一般從Ｎa到Ｕ，好點(diǎn)的（取決于分光晶體）能從Ｂ到Ｕ，理論上可從Ｂe 到Ｕ，但一般要做Ｂe很難.(3) 波長形的是ＮＡ－Ｕ，能量形的應(yīng)該可以分析ＢＥ－Ｕ，二種儀器都用過了才知道．

edx熒光光譜分析金屬總是定量測不準(zhǔn)，而且偏差較大，特別是cd和pb。請問這是標(biāo)準(zhǔn)曲線做的不好或者制樣有問題，還是儀器本身的限制。(1) 測金屬的干擾項(xiàng)比較多吧,應(yīng)該是偏差大的原因之一(2) 基體是影響分析穩(wěn)定性的一個(gè)原因。塑膠類基體是CHO，他們對相關(guān)分析元素干擾影響比較小。金屬就大了。同時(shí)標(biāo)準(zhǔn)樣品質(zhì)量或有無也影響分析的準(zhǔn)確度。61.在以EDXRF儀器檢測電鍍產(chǎn)品時(shí),測出Pb含量在同一零件上不同測點(diǎn)有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 樣本:SUM24L快削鋼鍍Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每個(gè)零件測三點(diǎn)),為什么會有如此大之差距,相關(guān)對比測試也做過,還是找不到問題所在.根據(jù)你所說得情況，應(yīng)該是X射線部分穿通鍍層。且鍍層不均勻，所以出現(xiàn)鍍層薄含鉛高，反之含鉛低