光譜儀分析X 射線熒光分析儀的優(yōu)點(diǎn)： (1)采樣方式靈敏，如 ESI英飛思 SEA 系列配有較大檢測(cè)室 ，多數(shù)試樣可直接進(jìn)行檢測(cè)?？梢詼p少取樣帶來的損耗，對(duì)于已壓鑄好的機(jī)械零件可以做到無損檢測(cè)，而.. 全文

X射線熒光測(cè)定(1) 原子序數(shù)較低的元素（或基體）對(duì)能量較高的譜線吸收系數(shù)較低，因此厚度也就大一點(diǎn)(2) Sb的K線能量較高，能穿透更厚的樣品（相對(duì)本樣品中的其他元素的特征射線），所以飽和厚度也就比其.. 全文

X熒光光譜儀X 射線熒光分析儀的優(yōu)點(diǎn)： (1)采樣方式靈敏，如 ESI英飛思 SEA 系列配有較大檢測(cè)室 ，多數(shù)試樣可直接進(jìn)行檢測(cè)?？梢詼p少取樣帶來的損耗，對(duì)于已壓鑄好的機(jī)械零件可以做到無損檢測(cè)，.. 全文

金屬檢測(cè)原理：通過高壓產(chǎn)生電子流達(dá)到光管中靶材產(chǎn)生初級(jí)光，初級(jí)光經(jīng)過過濾和聚集射入到被測(cè)樣品產(chǎn)生次級(jí)X射線，也就是我們通常所說的X熒光，X熒光備探測(cè)器探測(cè)到后經(jīng)過放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)后計(jì).. 全文