光譜儀(1) 工作曲線法就是利用標(biāo)準(zhǔn)樣品先建立一條標(biāo)準(zhǔn)的校正曲線，測試時(shí)再根據(jù)這個(gè)曲線計(jì)算測量結(jié)果。用已知濃度的幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品測強(qiáng)度,得到一系列相應(yīng)的強(qiáng)度信號 ,強(qiáng)度和濃度對應(yīng)形成一系列的點(diǎn),通過軟件擬合成一條標(biāo)準(zhǔn)曲線，測試樣品時(shí),儀器測試到一個(gè)信號強(qiáng)度,對應(yīng)這條曲線,可以知道對應(yīng)的濃度. (2)標(biāo)準(zhǔn)工作曲線法相對 FP 法來說確度較高，但是由于儀器本身存在背景強(qiáng)度，導(dǎo)致低于背景強(qiáng)度的樣品出現(xiàn)負(fù)值，標(biāo)準(zhǔn)品及強(qiáng)度漂移影響曲線的度、曲線的檢出限及曲線上限問題。

光譜儀X 射線熒光分析儀的優(yōu)點(diǎn)： (1)采樣方式靈敏，如 ESI英飛思 SEA 系列配有較大檢測室 ，多數(shù)試樣可直接進(jìn)行檢測?？梢詼p少取樣帶來的損耗，對于已壓鑄好的機(jī)械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。 (2)測試速率高，可以在較少時(shí)間內(nèi)進(jìn)行大量樣品測試，分析結(jié)果可以通過計(jì)算機(jī)直接連網(wǎng)輸出。 (3)分析速度較快。 (4)對于純金屬可采用無標(biāo)樣分析，精度能達(dá)分析要求。 (5)不需要實(shí)驗(yàn)室與操作人員，不引入其它對環(huán)境有害的物質(zhì)。 X 射線熒光分析儀的缺點(diǎn)： (1) 關(guān)于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到檢測。在用基本參數(shù)法測試時(shí)，如果測試樣品里含有 C、H、O 等元素，會出現(xiàn)誤差。 (2)不能作為仲裁分析方法，檢測結(jié)果不能作為根據(jù)，不能區(qū)分元素價(jià)態(tài)。 (3)對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線繪制，分析結(jié)果的是建立在標(biāo)樣化學(xué)分析的基礎(chǔ)上。 (4)標(biāo)準(zhǔn)曲線模型需求不時(shí)更新，在儀器發(fā)生變化或標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)曲線模型也要變化。

光譜儀(1)應(yīng)明確理解，熒光分析存在干擾的元素有很多，每一種需要測試的元素都會受到其它某些元素的影響。 如鉛分析過程中常出現(xiàn)干擾，分析過程中常出現(xiàn)鍺和錸干擾。 (2) 常見干擾[經(jīng)驗(yàn)] Cd:Br/Pb/Sn/Sb Pb:Br/As Hg:Br/Pb/Fe/Ca Cr:Cl Br:/Fe/Pb (3) 同時(shí)使用兩條以上的特征線進(jìn)行測分析。例如 Pb，需要選取 PbLa 和 PbLb 這兩條譜線進(jìn)行測試和判斷。