熒光光譜(1) 熒光的照射面積跟測(cè)量出來的強(qiáng)度有關(guān)系。分辨率與分光晶體、準(zhǔn)直器、探測(cè)器等 有關(guān)系。照射面積可以通過準(zhǔn)直器來切換。 全文

X射線熒光(XRF)測(cè)試是一種非破壞性分析技術(shù)，可以用來確定物質(zhì)的化學(xué)成分。它可以用于多種應(yīng)用，如質(zhì)量控制、環(huán)境監(jiān)測(cè)和考古學(xué)等。要進(jìn)行XRF測(cè)試，首先需要準(zhǔn)備樣品并將其放置在X射線管下。然后，X射線管.. 全文

光譜儀分析 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問題,后再準(zhǔn)確定量。 全文

X射線熒光光譜(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實(shí)際鍍層密度不同的.. 全文