XRF光譜儀是一種用于測定物質(zhì)化學(xué)成分的儀器。它利用 X 射線光子打在待測樣品上，通過分析它們產(chǎn)生的熒光來推斷其組成和含量。這種設(shè)備具有操作簡單、檢測速度快和不破壞樣本等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域中如質(zhì).. 全文

光譜儀(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實際鍍層密度不同的話，會產(chǎn).. 全文

光譜儀(1) 做黃金，白金測定一定要標(biāo)樣，除非測定結(jié)果不算數(shù)(2) 項鏈類的應(yīng)先去污 全文

重晶石分析儀是一種用于測定礦石中重晶石含量的設(shè)備。該設(shè)備采用光譜技術(shù)，通過測量礦石在特定波長下的吸收率來確定重晶石的含量。使用重晶石分析儀可以準(zhǔn)確、快速地測定礦石中的重晶石含量，從而幫助礦業(yè)公司進(jìn)行有.. 全文