熒光光譜(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實(shí)際鍍層密度不同的話，會產(chǎn)生誤差。 (2)測厚度可選用無標(biāo)樣的薄膜 FP 法，也可選用標(biāo)準(zhǔn)曲線法，標(biāo)準(zhǔn)曲線法需要樣品，其標(biāo)稱值好覆蓋產(chǎn)品規(guī)格的上下限。 (3)測試厚度主要有兩種方法：發(fā)射法和吸收法，前者測鍍層元素的強(qiáng)度，后者測基體元素的強(qiáng)度。

熒光光譜(1)儀器本身并不需經(jīng)常維護(hù)，可以間隔適當(dāng)時間對過濾網(wǎng)進(jìn)行清潔。 (2)如有儀器機(jī)械故障，應(yīng)聯(lián)系供應(yīng)商維修，不可私自拆開裝置，以免弄巧成拙。

熒光光譜(1) 取各種標(biāo)準(zhǔn)樣品來測試（例如銅合金、鋁合金、PVC、PE 樣品等），每種樣品用相對應(yīng)的方法來測試（例如銅合金就用金屬 FP 法來測試），計(jì)算與標(biāo)準(zhǔn)值之間差距。 每個樣品測試 3－5 次，取均值，然后對比所用的儀器的允許誤差就可以知道是否合格。文件上的誤差范圍只是一個參考，可以自己選擇一個對本公司的誤差范圍作為儀器的標(biāo)準(zhǔn)誤差允許范圍。 (2) 針對 EDXRF 目前有《半導(dǎo)體探測器 X 射線能譜儀通則》《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量 X 射線光譜方法》等相關(guān)，另每個公司和機(jī)構(gòu)內(nèi)部都有自己一套的標(biāo)樣測試重復(fù)性和穩(wěn)定性要求。ESI英飛思 儀器標(biāo)準(zhǔn)，PE 料 Cd,Pb,Hg,Cr 在 100ppm 時相對誤差不得大于 15%，Br，Cl 在 1000ppm 時相對誤差不得大于 30% 。