熒光光譜分析儀(1) 目前能量色散的光譜儀的從鈉開(kāi)始(2) 波長(zhǎng)色散型，一般從Ｎa到Ｕ，好點(diǎn)的（取決于分光晶體）能從Ｂ到Ｕ，理論上可從Ｂe 到Ｕ，但一般要做Ｂe很難.(3) 波長(zhǎng)形的是ＮＡ－Ｕ，能量形.. 全文

金屬檢測(cè)原理：通過(guò)高壓產(chǎn)生電子流達(dá)到光管中靶材產(chǎn)生初級(jí)光，初級(jí)光經(jīng)過(guò)過(guò)濾和聚集射入到被測(cè)樣品產(chǎn)生次級(jí)X射線(xiàn)，也就是我們通常所說(shuō)的X熒光，X熒光備探測(cè)器探測(cè)到后經(jīng)過(guò)放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)后計(jì).. 全文

熒光光譜分析儀(1) 簡(jiǎn)單的說(shuō)，你對(duì)同一個(gè)樣品在同等條件下多次測(cè)量?？此慕Y(jié)果偏差大不大？不大就說(shuō)明重現(xiàn)性好。反之則說(shuō)明重現(xiàn)性差。重現(xiàn)性在XRF中算是很重要的一個(gè)指標(biāo)。(2) 可以字面理解:就是重復(fù)操.. 全文

XRF測(cè)試是一種常用的物質(zhì)分析方法，它通過(guò)測(cè)定輻射能來(lái)對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)和成分識(shí)別。該技術(shù)具有操作簡(jiǎn)單、靈敏度高以及能夠同時(shí)測(cè)多個(gè)元素的特點(diǎn)被廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域中如冶金、石化、環(huán)境監(jiān)測(cè)等項(xiàng)目中對(duì)金屬材.. 全文