錳礦分析儀是一種用于測(cè)定錳礦石中錳含量的設(shè)備。它可以快速準(zhǔn)確地測(cè)定出錳礦石中的錳含量，從而幫助礦山企業(yè)進(jìn)行原料控制和生產(chǎn)管理。此外，它還可以用于研究錳礦石的礦物學(xué)性質(zhì)，如顆粒大小、形狀、顏色等。錳礦分.. 全文

X射線熒光(XRF)測(cè)試是一種非破壞性分析技術(shù)，可以用來(lái)確定物質(zhì)的化學(xué)成分。它可以用于多種應(yīng)用，如質(zhì)量控制、環(huán)境監(jiān)測(cè)和考古學(xué)等。要進(jìn)行XRF測(cè)試，首先需要準(zhǔn)備樣品并將其放置在X射線管下。然后，X射線管.. 全文

X熒光光譜(1) 做黃金，白金測(cè)定一定要標(biāo)樣，除非測(cè)定結(jié)果不算數(shù)(2) 項(xiàng)鏈類的應(yīng)先去污 全文

光譜儀分析 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問題,后再準(zhǔn)確定量。 全文