金屬檢測(cè)可以檢測(cè)從鈉到鈾之間的元素。能夠提供測(cè)試報(bào)告，但不能提供報(bào)告。因?yàn)檎J(rèn)證是對(duì)測(cè)試機(jī)構(gòu)認(rèn)證的，它不是對(duì)儀器進(jìn)行認(rèn)證的。世界上任何一家的X熒光光譜儀的報(bào)告都不具備。 全文

能量色散型X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象，熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀，其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法.. 全文

X熒光光譜儀 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問題,后再準(zhǔn)確定量。 全文

光譜儀光使氣體電離，在電場(chǎng)的作用下，電離后的電子和正離子分別向兩極運(yùn)動(dòng)，在電子向陽(yáng)極的運(yùn)動(dòng)過程中逐漸被加速而獲得更高的動(dòng)能。這些電子與氣體分子碰撞時(shí)，將引起進(jìn)一步的電離，產(chǎn)生大量的電子涌到陽(yáng)極，產(chǎn)生一.. 全文