硅片反射率儀工作原理
硅片反射率儀是一種用于測量硅片表面反射特性的精密光學(xué)儀器，其工作原理基于光波與物質(zhì)相互作用的光學(xué)特性分析。該設(shè)備主要應(yīng)用于半導(dǎo)體制造工藝中，通過監(jiān)測硅片表面反射率變化來評估薄膜厚度、表面粗糙度及氧化層.. 全文
敢問大家，葉片光譜測試儀廠家要怎么進(jìn)行合作呢？拜托了幫個忙
一個好的葉片光譜測試儀廠家，需要有責(zé)任心，對產(chǎn)品的品質(zhì)要求嚴(yán)格，一絲不茍，產(chǎn)品的品質(zhì)是對客戶很大的尊重與負(fù)責(zé)。 全文
全波長透光率測量儀的測試原理
全波長透光率測量儀是一種光學(xué)分析設(shè)備，其工作原理基于光的吸收和透射特性。它利用光源發(fā)出特定波長的光照射樣品，光線通過樣品時，部分被吸收，部分透過。儀器內(nèi)的光電探測器接收透過后的光信號，與入射光強(qiáng)度進(jìn)行.. 全文
反光杯吸收率檢測儀的維護(hù)和保養(yǎng)方法
<div style="text-align:center;margin:5px 0;"><img src="https://upimg300.dns4.cn/pic1/346595/p14/2024.. 全文
