熒光光譜(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實(shí)際鍍層密度不同的話，會(huì).. 全文

光譜儀光使氣體電離，在電場(chǎng)的作用下，電離后的電子和正離子分別向兩極運(yùn)動(dòng)，在電子向陽(yáng)極的運(yùn)動(dòng)過(guò)程中逐漸被加速而獲得更高的動(dòng)能。這些電子與氣體分子碰撞時(shí)，將引起進(jìn)一步的電離，產(chǎn)生大量的電子涌到陽(yáng)極，產(chǎn)生一.. 全文

X熒光光譜儀(1) 每個(gè)元素的特征X熒光有不同的波長(zhǎng)和能量，波長(zhǎng)色散和能量色散就是利用它的波長(zhǎng)和能量的不同來(lái)檢測(cè)。波長(zhǎng)色散利用晶體分光，把不同波長(zhǎng)的特征X射線分開(kāi)，根據(jù)Bragg公式和Moseley定.. 全文

鎳礦分析儀是一種用于檢測(cè)和測(cè)量鎳礦石中鎳含量的設(shè)備。它可以地測(cè)量出鎳礦石中的鎳含量，從而幫助人們了解鎳礦石的質(zhì)量和價(jià)值。在工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中，鎳礦石是非常重要的原料之一。它被廣泛應(yīng)用于制造各種合金、不銹鋼.. 全文