半導(dǎo)體厚度測(cè)試儀是一種高精度的測(cè)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及相關(guān)行業(yè)的材料厚度測(cè)量。其適用的材料類型非常廣泛，包括但不限于以下幾種：首先，半導(dǎo)體厚度測(cè)試儀可以測(cè)量半導(dǎo)體材料，如硅（Si）和砷化鎵（GaA.. 全文

手機(jī)蓋板透光率檢測(cè)儀是一種用于測(cè)量手機(jī)蓋板透光率的儀器，其工作原理如下：光源：手機(jī)蓋板透光率檢測(cè)儀采用高亮度LED光源，可以提供均勻穩(wěn)定的光照環(huán)境，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。光路系統(tǒng)：手機(jī)蓋板透光率檢測(cè)儀.. 全文

用透過(guò)率檢測(cè)儀測(cè)定濁度，測(cè)定方法是：散射測(cè)渾法，以散射光的強(qiáng)度來(lái)計(jì)量濁液體中微粒的多少用1濁度的SiO2標(biāo)準(zhǔn)溶液（1000毫升中含0.001可硅藻土、漂白土或高嶺土的濁液）代替前面的蒸餾水所得的“H1.. 全文

選擇價(jià)格合理的透射率測(cè)試儀廠家還取決于設(shè)備的運(yùn)營(yíng)成本，還可以從產(chǎn)品安全性這方面的設(shè)計(jì)進(jìn)行考慮。 全文