X熒光光譜儀光使氣體電離，在電場(chǎng)的作用下，電離后的電子和正離子分別向兩極運(yùn)動(dòng)，在電子向陽(yáng)極的運(yùn)動(dòng)過(guò)程中逐漸被加速而獲得更高的動(dòng)能。這些電子與氣體分子碰撞時(shí)，將引起進(jìn)一步的電離，產(chǎn)生大量的電子涌到陽(yáng)極，.. 全文

X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象，熒光分析儀較常見(jiàn)的兩類為膜厚儀與元素分析儀，其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。 全文

重晶石分析儀是一種用于測(cè)定礦石中重晶石含量的設(shè)備。為了滿足不同客戶的需求，我們可以根據(jù)客戶的實(shí)際需要和要求來(lái)定制重晶石分析儀。首先，我們需要了解客戶的具體需求，例如他們需要測(cè)定的樣品類型、測(cè)量精度、采.. 全文

XRF光使氣體電離，在電場(chǎng)的作用下，電離后的電子和正離子分別向兩極運(yùn)動(dòng)，在電子向陽(yáng)極的運(yùn)動(dòng)過(guò)程中逐漸被加速而獲得更高的動(dòng)能。這些電子與氣體分子碰撞時(shí)，將引起進(jìn)一步的電離，產(chǎn)生大量的電子涌到陽(yáng)極，產(chǎn)生一.. 全文