X射線熒光(X-ray Fluorescence，XRF)是一種基于物質(zhì)吸收和散射X射線的非破壞性分析技術(shù)。XRF儀器通過發(fā)射高能X射線照射樣品表面，激發(fā)樣品原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生二次X射線，然后測量二次X射線的能量和強(qiáng)度來確定樣品中元素種類和含量。XRF具有快速、準(zhǔn)確、無損等優(yōu)點，在地質(zhì)勘查、礦物分析、環(huán)境監(jiān)測、保護(hù)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。它可以檢測多種元素，包括金屬、非金屬元素和微量元素，并且可以同時測定樣品中的多種元素。XRF的基本原理是利用高能X射線激發(fā)樣品內(nèi)部的原子核發(fā)生電子躍遷，從而產(chǎn)生次級X射線。次級X射線的能量和強(qiáng)度與樣品中元素的種類和含量有關(guān)，因此可以通過測量次級X射線的能量和強(qiáng)度來確定樣品中元素的種類和含量。此外，XRF還可以根據(jù)樣品對X射線的吸收和散射特性，實現(xiàn)無損檢測和三維成像等功能。