光譜儀分析 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買(mǎi)標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買(mǎi)有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問(wèn)題,后再準(zhǔn)確定量。 全文

EDX-800T光譜測(cè)金儀的價(jià)格大概在**五萬(wàn)到八萬(wàn)元左右**，具體價(jià)格會(huì)根據(jù)品牌和配置有所差異。這款儀器適用于金銀鉑等金屬的檢測(cè)，具有靈敏度高、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。請(qǐng)注意，以上數(shù)據(jù)僅供參考，實(shí)際購(gòu)買(mǎi)時(shí)建.. 全文

EDX設(shè)備可做RoHS檢測(cè)、鹵素（Br和Cl）檢測(cè)、玩具八大重金屬檢測(cè)、各種材料的全元素分析和測(cè)金屬的鍍層厚度。 全文

XRF(1) 每個(gè)元素的特征X熒光有不同的波長(zhǎng)和能量，波長(zhǎng)色散和能量色散就是利用它的波長(zhǎng)和能量的不同來(lái)檢測(cè)。波長(zhǎng)色散利用晶體分光，把不同波長(zhǎng)的特征X射線分開(kāi)，根據(jù)Bragg公式和Moseley定律做元.. 全文