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X熒光光譜儀ED‐XRF 的標(biāo)準(zhǔn)曲線法是什么? 急需賜教
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  • X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象,熒光分析儀較常見(jiàn)的兩類(lèi)為膜厚儀與元素分析儀,其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。
  • X熒光光譜儀X 射線是一種電磁波,波長(zhǎng)比紫外線還要短,為 0.001‐ 10nm 左右。X 射線照射到 物質(zhì)上面以后,從物質(zhì)上主要可以觀測(cè)到以下三種 X 射線。熒光 X 射線、散射 X 射線、透過(guò) X 射線,ESI英飛思NT 產(chǎn)品使用的是通過(guò)對(duì)一種熒光 X 射線的測(cè)定,從物質(zhì)中獲取元素信息(成分和膜厚)的熒光 X 射線法原理。物質(zhì)受到 X 射線的照射時(shí),發(fā)生元素所固有的 X 射線(固有 X 射線或者特征 X 射線)。熒光 X 射線裝置就是通過(guò)對(duì)該 X 射線的檢測(cè)而獲取元素信息。
  • X熒光光譜儀 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買(mǎi)標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì),可以粉碎后混測(cè),也可購(gòu)買(mǎi)有面掃描功能的儀器,掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問(wèn)題,后再準(zhǔn)確定量。
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