二氧化硅膜厚儀的測(cè)量原理是?
二氧化硅膜厚儀的測(cè)量原理主要基于光的干涉現(xiàn)象。當(dāng)單色光垂直照射到二氧化硅膜層表面時(shí),光會(huì)在膜層表面和膜層與基底的界面處發(fā)生反射。這兩束反射光在返回的過程中會(huì)發(fā)生干涉,即相互疊加,產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋.. 全文
幫個(gè)忙,該如何選擇IR孔穿透率測(cè)量儀器廠家呢?拜托了幫個(gè)忙
可以從服務(wù)質(zhì)量方面選擇IR孔穿透率測(cè)量儀器廠家。選擇服務(wù)質(zhì)量好的廠家,一旦出現(xiàn)故障,可及時(shí)修復(fù),不影響企業(yè)生產(chǎn)。 全文
光源光功率計(jì)怎么選擇合作工廠?在線等
選擇光源光功率計(jì)廠家合作建議可以就近選擇廠家。還方便去工廠進(jìn)行實(shí)地考察,觀察產(chǎn)品是否符合標(biāo)準(zhǔn)。 全文
AG防眩光涂層膜厚儀如何校準(zhǔn)
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