光譜儀(1) 取各種標準樣品來測試（例如銅合金、鋁合金、PVC、PE 樣品等），每種樣品用相對應的方法來測試（例如銅合金就用金屬 FP 法來測試），計算與標準值之間差距。 每個樣品測試 3－5 次，取均值，然后對比所用的儀器的允許誤差就可以知道是否合格。文件上的誤差范圍只是一個參考，可以自己選擇一個對本公司的誤差范圍作為儀器的標準誤差允許范圍。 (2) 針對 EDXRF 目前有《半導體探測器 X 射線能譜儀通則》《金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量 X 射線光譜方法》等相關，另每個公司和機構(gòu)內(nèi)部都有自己一套的標樣測試重復性和穩(wěn)定性要求。ESI英飛思 儀器標準，PE 料 Cd,Pb,Hg,Cr 在 100ppm 時相對誤差不得大于 15%，Br，Cl 在 1000ppm 時相對誤差不得大于 30% 。

光譜儀(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標元素的附著量：g/m2）非實際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實際鍍層密度不同的話，會產(chǎn)生誤差。 (2)測厚度可選用無標樣的薄膜 FP 法，也可選用標準曲線法，標準曲線法需要樣品，其標稱值好覆蓋產(chǎn)品規(guī)格的上下限。 (3)測試厚度主要有兩種方法：發(fā)射法和吸收法，前者測鍍層元素的強度，后者測基體元素的強度。

光譜儀(1)由于 XRF 是靠檢測樣品所發(fā)出的熒光 X 射線來判斷測試樣品里面的元素含量的，對于已電鍍樣品，X 射線檢測結(jié)果多為表層信息，化學分析多為溶樣后測定整體，由于基體影響，所以兩個結(jié)果會有較大差距。 (3) 如果電鍍層中引入了有害物質(zhì)是地，要進行管控采取化學分析的方法會比較可靠。