膜厚測(cè)量?jī)x的原理主要基于光學(xué)干涉現(xiàn)象和電磁學(xué)原理。當(dāng)一束光波或電磁信號(hào)照射到材料表面時(shí)，一部分光或信號(hào)會(huì)被反射，另一部分會(huì)透射。在薄膜表面和底部之間，這些光波或電磁信號(hào)會(huì)經(jīng)歷多次反射和透射，形成干涉現(xiàn).. 全文

品牌效應(yīng)和設(shè)備性能方面選擇植物NDVI計(jì)廠家。品牌效應(yīng)大的廠家也能體現(xiàn)企業(yè)實(shí)力和產(chǎn)品質(zhì)量。 全文

用透光率檢測(cè)系統(tǒng)測(cè)定濁度，測(cè)定方法是：根據(jù)液體的吸收特性，用透過(guò)懸浮體的光強(qiáng)度來(lái)決定懸浮體的濃度（單位體積中質(zhì)點(diǎn)的數(shù)目），此時(shí)先用潔凈的蒸餾水裝于儀器附件樣品杯內(nèi)，作為標(biāo)準(zhǔn)樣品置于樣品臺(tái)上，在按測(cè)試鈕.. 全文

光譜膜厚儀的測(cè)量能力涵蓋了多種材料的薄膜厚度檢測(cè)，其范圍可以從幾納米到數(shù)百微米。這種廣泛的測(cè)量范圍使得光譜膜厚儀在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，無(wú)論是金屬、半導(dǎo)體還是非金屬等材料的膜厚測(cè)量，都能得到較為準(zhǔn)確.. 全文