熒光光譜分析金屬總是定量測(cè)不準(zhǔn)，而且偏差較大，特別是cd和pb。請(qǐng)問(wèn)這是標(biāo)準(zhǔn)曲線做的不好或者制樣有問(wèn)題，還是儀器本身的限制。(1) 測(cè)金屬的干擾項(xiàng)比較多吧,應(yīng)該是偏差大的原因之一(2) 基體是影響分析穩(wěn)定性的一個(gè)原因。塑膠類(lèi)基體是CHO，他們對(duì)相關(guān)分析元素干擾影響比較小。金屬就大了。同時(shí)標(biāo)準(zhǔn)樣品質(zhì)量或有無(wú)也影響分析的準(zhǔn)確度。61.在以EDXRF儀器檢測(cè)電鍍產(chǎn)品時(shí),測(cè)出Pb含量在同一零件上不同測(cè)點(diǎn)有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 樣本:SUM24L快削鋼鍍Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每個(gè)零件測(cè)三點(diǎn)),為什么會(huì)有如此大之差距,相關(guān)對(duì)比測(cè)試也做過(guò),還是找不到問(wèn)題所在.根據(jù)你所說(shuō)得情況，應(yīng)該是X射線部分穿通鍍層。且鍍層不均勻，所以出現(xiàn)鍍層薄含鉛高，反之含鉛低

熒光光譜分析(1) 目前能量色散的光譜儀的從鈉開(kāi)始(2) 波長(zhǎng)色散型，一般從Ｎa到Ｕ，好點(diǎn)的（取決于分光晶體）能從Ｂ到Ｕ，理論上可從Ｂe 到Ｕ，但一般要做Ｂe很難.(3) 波長(zhǎng)形的是ＮＡ－Ｕ，能量形的應(yīng)該可以分析ＢＥ－Ｕ，二種儀器都用過(guò)了才知道．

熒光光譜分析這是在調(diào)研儀器時(shí)，儀器公司給我的，與大家分享。A下照射式光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺陷：優(yōu)點(diǎn)：可以分析純液態(tài)樣品；樣品下表面為分析面，液樣受熱后產(chǎn)生的氣泡對(duì)分析無(wú)影響。缺陷：分析粉末壓片樣品時(shí)一旦樣品破碎，污染檢測(cè)室、損毀光管！日常分析時(shí)碎屑落在光管Be窗上難于處理，不利于儀器維護(hù)；B上照射式光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺陷：缺陷：不能分析純液態(tài)樣品；分析液樣只能采用其他方法；優(yōu)點(diǎn)：有利于儀器維護(hù)保養(yǎng)，光管不受損；兩類(lèi)儀器分析精度沒(méi)有區(qū)別。