光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象，熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀，其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。 全文

光譜儀(1) 原子序數(shù)較低的元素（或基體）對(duì)能量較高的譜線吸收系數(shù)較低，因此厚度也就大一點(diǎn)(2) Sb的K線能量較高，能穿透更厚的樣品（相對(duì)本樣品中的其他元素的特征射線），所以飽和厚度也就比其他元素厚.. 全文

光譜儀X熒光分析設(shè)備不屬于強(qiáng)檢產(chǎn)品。但我們的設(shè)備已經(jīng)通過國家環(huán)境輻射研究與監(jiān)測(cè)中心相關(guān)部門的認(rèn)證。 全文

EDX-5000測(cè)金儀的報(bào)價(jià)范圍為**150～4百元之間不等**。該儀器可用于銅銀合金、黃金等金屬材質(zhì)的分析，準(zhǔn)確度可達(dá)98%，同時(shí)也可對(duì)非金屬材料進(jìn)行定性和定量分析檢測(cè)。另外還有不同品牌和型號(hào)的金相.. 全文