XRF光譜儀是一種用于測(cè)定物質(zhì)化學(xué)成分的儀器。它利用 X 射線(xiàn)光子打在待測(cè)樣品上，通過(guò)分析它們產(chǎn)生的熒光來(lái)推斷其組成和含量。這種設(shè)備具有操作簡(jiǎn)單、檢測(cè)速度快和不破壞樣本等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域中如質(zhì).. 全文

光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象，熒光分析儀較常見(jiàn)的兩類(lèi)為膜厚儀與元素分析儀，其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線(xiàn)法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線(xiàn)法。 全文

熒光光譜(1) 不同樣品的抽真空時(shí)間是不一樣的，有的較短，有的較長(zhǎng)，如氧化鋁樣品就需要較長(zhǎng)的時(shí)間來(lái)抽真空，可能和樣品表面吸附的水份有關(guān)。除了樣品外，還應(yīng)該檢查一下系統(tǒng)是否漏氣，真空泵的能力是否下降。 .. 全文

edx熒光光譜分析(1) 如果配了液體樣品分析裝置，可以直接測(cè)量；沒(méi)有的話(huà)，可以采取間接的方法，比如把樣品吸附到濾紙上測(cè)量等等(2) 先的有標(biāo)準(zhǔn)，一般鹵水的K、Na、Ca、Mg比較高，要稀釋。放入.. 全文