光譜膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理主要基于磁通和磁阻的變化來(lái)測(cè)定覆層厚度。當(dāng)光譜膜厚儀的測(cè)頭接近被測(cè)物體時(shí)，測(cè)頭會(huì)發(fā)出磁場(chǎng)，這個(gè)磁場(chǎng)會(huì)經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層流入鐵磁基體。在這個(gè)過(guò)程中，磁通的大小會(huì)受到覆層厚度的影響。覆層越厚，磁通越小，因?yàn)榇艌?chǎng)需要穿透更厚的非鐵磁材料才能到達(dá)鐵磁基體。同時(shí)，光譜膜厚儀還會(huì)測(cè)定對(duì)應(yīng)的磁阻大小。磁阻是表示磁場(chǎng)在材料中傳播時(shí)所遇到的阻礙程度的物理量。覆層越厚，磁阻也會(huì)越大，因?yàn)榇艌?chǎng)在穿透非鐵磁材料時(shí)會(huì)受到更多的阻礙。因此，通過(guò)測(cè)量磁通和磁阻的大小，光譜膜厚儀就能夠準(zhǔn)確地確定覆層的厚度。這種測(cè)量原理使得光譜膜厚儀能夠廣泛應(yīng)用于各種磁性金屬表面的非磁性涂鍍層厚度的檢測(cè)，如鐵鍍鋅、鐵鍍鋁、鐵鍍銀等。同時(shí)，它也可以用于檢測(cè)非磁性金屬表面的非導(dǎo)電涂層厚度，如陽(yáng)極氧化膜、油漆、涂料等。總的來(lái)說(shuō)，光譜膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理是一種基于磁場(chǎng)特性的非接觸式測(cè)量方法，具有測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)，為各種材料表面涂層厚度的檢測(cè)提供了有效的手段。