熒光光譜(1)由于 XRF 是靠檢測樣品所發(fā)出的熒光 X 射線來判斷測試樣品里面的元素含量的，對(duì)于已電鍍樣品，X 射線檢測結(jié)果多為表層信息，化學(xué)分析多為溶樣后測定整體，由于基體影響，所以兩個(gè)結(jié)果會(huì)有較.. 全文

X射線熒光光譜(1)儀器本身并不需經(jīng)常維護(hù)，可以間隔適當(dāng)時(shí)間對(duì)過濾網(wǎng)進(jìn)行清潔。 (2)如有儀器機(jī)械故障，應(yīng)聯(lián)系供應(yīng)商維修，不可私自拆開裝置，以免弄巧成拙。 全文

光譜儀(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實(shí)際鍍層密度不同的話，會(huì)產(chǎn).. 全文

光譜儀(1) 能散和波散的區(qū)別應(yīng)該先從 X 射線性質(zhì)說起：X 射線作為電磁波的一種具有明顯的波、粒二項(xiàng)性。波具有波長、頻率，還有反射、折射、衍射等性質(zhì)，粒子具有質(zhì)量、速度、動(dòng)能、勢能等性質(zhì)。以此兩個(gè)不.. 全文