光譜儀分析(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象，熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀，其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。

光譜儀分析(1)準(zhǔn)直器的作用是將發(fā)散射線變成平行射線束，是由一系列間隔很小的金屬片制成。 (2) 準(zhǔn)直器由平行金屬板組成，其片間距越小，分辨率越高，強(qiáng)度也越小。(3) 光纖準(zhǔn)直器是光纖通信系統(tǒng)的基本光學(xué)器件，其作用是把光纖中發(fā)散的光束變成準(zhǔn)直光，使其以非常小的損耗耦合到光纖中。 (4) 準(zhǔn)直器有方型的,也有圓形的,是限制 X 射線對(duì)應(yīng)于樣品的測(cè)量作用范圍. 11.我們用的熒光分析儀攝像頭沒法用，看不到檢測(cè)樣品的部位，就是打開之后什么也不顯示，不知道是什么原因？ 答：(1)可能是數(shù)據(jù)線接口松了，可以把接電腦的ＵＳＢ線撥掉再接上，或者查看ＣＣＤ視頻卡線有無(wú)松動(dòng)。 (2) 完成以上步驟后，可以重啟電腦再檢查。 (3) 還有一種可能，早期 USB 線傳輸速度慢，如傳輸數(shù)據(jù)包大或過(guò)快有可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)阻塞，此時(shí)可以升級(jí)或放好樣品關(guān)閉視窗再檢測(cè)樣品。

光譜儀分析(1)應(yīng)明確理解，熒光分析存在干擾的元素有很多，每一種需要測(cè)試的元素都會(huì)受到其它某些元素的影響。 如鉛分析過(guò)程中常出現(xiàn)干擾，分析過(guò)程中常出現(xiàn)鍺和錸干擾。 (2) 常見干擾[經(jīng)驗(yàn)] Cd:Br/Pb/Sn/Sb Pb:Br/As Hg:Br/Pb/Fe/Ca Cr:Cl Br:/Fe/Pb (3) 同時(shí)使用兩條以上的特征線進(jìn)行測(cè)分析。例如 Pb，需要選取 PbLa 和 PbLb 這兩條譜線進(jìn)行測(cè)試和判斷。