能量色散型X熒光光譜儀分析 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問題,后再準(zhǔn)確定量。 全文

EDX設(shè)備六價(jià)鉻、鎘、鉛、測(cè)試方法很多，而且應(yīng)用在不同的產(chǎn)品和行業(yè)，其檢測(cè)方法也不是相同的，每種儀器的優(yōu)勢(shì)也是各不相同的，何種儀器好，還要看客戶真正應(yīng)用領(lǐng)域和實(shí)際測(cè)試的樣品。 全文

X熒光光譜(1) 每個(gè)元素的特征X熒光有不同的波長(zhǎng)和能量，波長(zhǎng)色散和能量色散就是利用它的波長(zhǎng)和能量的不同來(lái)檢測(cè)。波長(zhǎng)色散利用晶體分光，把不同波長(zhǎng)的特征X射線分開，根據(jù)Bragg公式和Moseley定律.. 全文

 全文