光譜儀什么是 X 射線熒光分析? 想知道
光譜儀 (2) 測量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì),可以粉碎后混測,也可購買有面掃描功能的儀器,掃描后再確定哪個點可能有問題,后再準(zhǔn)確定量。 全文
能量色散型X熒光光譜儀請問準(zhǔn)直器的作用主要是什么?求解答
能量色散型X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對象,熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀,其針對的目標(biāo)不同。如測厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法.. 全文
熒光光譜X熒光光譜儀測量鍍層厚度的原理和測的效果怎樣?
熒光光譜(1)待機(jī)狀態(tài)對儀器性能影響比較小。 (2)影響儀器穩(wěn)定性的因素有:溫度變化,濕度變化,電壓變化等. 一般情況注意好溫濕 度就可以了。 全文
XRF光譜測金儀注意事項
使用XRF光譜測金儀時,需要注意以下幾點:1. 確保儀器穩(wěn)定接地。由于金屬物質(zhì)被檢測的樣本相同所以在測量前應(yīng)關(guān)閉機(jī)器長按開機(jī)鍵重啟再開始工作并離地面約一米以上且要遠(yuǎn)離磁場干擾的地方放置在平穩(wěn)堅硬的位置.. 全文