熒光光譜儀(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實(shí)際鍍層密度不同的話，.. 全文

光譜儀(1) 有的手持式的在頭部裝有一個(gè)校正的樣品，同時(shí)在不用的時(shí)候也可以保護(hù)X射線發(fā)射源。(2) 銅塊作用一是作能量校正，二是在不測(cè)其它樣品時(shí)擋住窗口起保護(hù)作用。 全文

X熒光光譜儀(1) 能散和波散的區(qū)別應(yīng)該先從 X 射線性質(zhì)說起：X 射線作為電磁波的一種具有明顯的波、粒二項(xiàng)性。波具有波長(zhǎng)、頻率，還有反射、折射、衍射等性質(zhì)，粒子具有質(zhì)量、速度、動(dòng)能、勢(shì)能等性質(zhì)。以此.. 全文

EDX-5000光譜測(cè)金儀是一款性能的光譜分析設(shè)備，主要用于金銀首飾、礦石、合金等材料中的金屬元素成分檢測(cè)。該設(shè)備具有操作簡(jiǎn)單、精度高、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)，并且可以快速準(zhǔn)確地測(cè)定樣品中各種金屬元素的含量。.. 全文