在這方面，鋁電解有明顯的缺點，鋁電解的貯存期愈長，氧化膜被損傷的可能性愈大。這是由于其中的雜質(zhì)金屬離子與鋁箔組成微電池的作用以及含水較多的工作電解液對鋁氧化膜的水合侵蝕。也可能其中的溶質(zhì)對鋁氧化膜還有溶解破壞作用，因為如果電解液PH值偏離中性很多，就可能出現(xiàn)這一現(xiàn)象，這種現(xiàn)象稱為去形成作用。另外，如產(chǎn)品本身結(jié)構(gòu)密封性不好，則電解液成分有揮發(fā)損失甚至干涸的可能，另外還會吸收外界潮氣等，更促進了破壞的加劇。所以在經(jīng)過較長時間的貯存后，一接上額定電壓，漏電流很大，而且在正常時間內(nèi)降得很慢，氧化膜也會來不及修復(fù)，造成氧化膜更多部位的擊穿，此時產(chǎn)品將發(fā)熱，即可能導(dǎo)致性損壞。但一般遇到這種情況，可逐漸升壓，電容就可以逐漸恢復(fù)正常 ?？傊?，漏電流大小是衡量電容性能及工藝過程是否合適和文明生產(chǎn)程度的一個直接標(biāo)志，任何原材料中的雜質(zhì)以及操作中的污染（灰塵、汗?jié)n等），均有可能導(dǎo)致氧化膜生長不均以及膜上存在缺陷，而組成穩(wěn)態(tài)漏電流的主要部分---電子電流，就是通過缺陷以及箔的邊緣而進行的。

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電容工作電壓測試(1)電壓探頭夾住電容引出導(dǎo)線時,注意示波器地線接電容負(fù)極引線,示波器正極線接電容正極引線.如下圖:(2)依待測電源板負(fù)載條件對電源板輸出端進行帶載調(diào)試,可用電子負(fù)載帶載.如下圖:C.電容工作電壓測試.測試時將>檔調(diào)到適當(dāng)?shù)母穸? 將>檔調(diào)到適當(dāng)?shù)母穸?一般取電源中電容使用工作頻率的倒數(shù)相接近之格度值); 調(diào)節(jié)>旋鈕使波形穩(wěn)定,再按>鍵采集波形,如下圖:三、電容本體溫度T。測試電解電容溫度與壽命息息相關(guān)，溫度每上升10℃壽命減少一半！A.當(dāng)電路板上電容所在的位置周圍沒有裝有發(fā)熱器件時,直接將溫度感應(yīng)探測端接于電容頂部鋁殼上, 溫度感應(yīng)探測線另一端連接點溫機,如下圖:B.當(dāng)電路板上電容所在的位置周圍有發(fā)熱器件(如功率管,散熱片等)時, 將溫度感應(yīng)探測端接于電容靠近發(fā)熱源的側(cè)面鋁殼上,將對著發(fā)熱源的鋁殼表面膠管剝掉一小塊,用點溫膠直接粘連(或利用熱傳導(dǎo)率高的銀膠帶連接,用酒精等東西擦式表面后貼上銀色膠帶),溫度感應(yīng)探測線另一端連接點溫機,如下圖:C.模擬電源終端應(yīng)用狀況,對電源進行密封,并依電源負(fù)載條件對電源輸出端帶載,在所需求的環(huán)境下進行點溫測試.如下圖:四、電容安裝應(yīng)用注意事項1 為了不要讓電解電容互相接觸請在pattern 上留一點空間2 請確保電解電容防爆閥和chassis 之間要有2mm 以上的距離。

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有極性電解電容器順串聯(lián)電路見下圖。C1，C2都是有極性電解電容，C1的負(fù)極與C2的正極相連。有極性電解電容的順串聯(lián)主要是提高電容的耐壓，一般電子電路中，由于直流電壓不是很高，所以不常用。有極性電解電容器順串聯(lián)電路主要用于電子管電路。下圖為順串聯(lián)電路，因電子管電路中直流工作電壓較高，用兩只耐壓較低的電解電容順串聯(lián)后，可以提高電容耐壓性能。有極性電解電容串聯(lián)電路的容量和耐壓無論是順串聯(lián)還是逆串聯(lián)，其等效電容的耐壓值會升高，但容量會下降。如下圖，C1，C2容量和耐壓均相同，為10微法，耐壓6V，兩電容串聯(lián)后加到一個12V直流電壓上，此時串聯(lián)等效后的電容器C0容量降低一倍，耐壓則升高一倍。提示：電解電容串聯(lián)電路中，盡量選用容量相等、耐壓相同的電容串聯(lián)。如果兩只電容容量、耐壓不一致，則串聯(lián)后的耐壓將不超過小容量電容的耐壓。下圖是兩只耐壓相同，容量不同的有極性電解電容串聯(lián)電路。一只容量20微法，另一只容量10微法，其等效電容C0的容量根據(jù)總?cè)萘康牡箶?shù)等于各電容倒數(shù)之和。根據(jù)計算，本電路中C0的容量約為7微法。C1，C2串聯(lián)后等效電容耐壓為9V，