直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？

1)系統(tǒng)誤差也叫可測誤差，一般包括儀器的本身波動；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測方法不一致，這樣檢測結(jié)果會有方法上的差異；同一種方法的檢測結(jié)果也存在一定的波動）；待測樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。

2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，光電直讀光譜儀價格，如試樣不均勻；檢測時周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。

3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，光電直讀光譜儀價格，可以避免。如制樣不準(zhǔn)確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測試樣存在制樣偏差，選擇了錯誤的分析程序等。

鋁及鋁合金加工產(chǎn)品是有色金屬工業(yè)中的輕金屬產(chǎn)品，是其他行業(yè)的重要原材料。之前鋁及鋁合金中化學(xué)成分的測定常用滴定法、分光光度法與原子吸收光譜法等，但是這些方法樣品前處理過程繁瑣。近年來，隨著國產(chǎn)直讀光譜儀的飛速發(fā)展，在金屬成分分析應(yīng)用中運(yùn)用的越來越廣泛。但是，對于非常薄鋁箔進(jìn)行分析時存在一定的困難：分析樣品在預(yù)燃激發(fā)時非常容易被擊穿，在層疊預(yù)燃時又困于將其中滯留的空氣趕跑，導(dǎo)致激發(fā)失敗。因此利用直讀光譜儀對鋁箔樣品進(jìn)行分析，樣品的制備是關(guān)鍵技術(shù)之一。

在直讀光譜儀上進(jìn)行分析的樣品均要求為塊狀固體。制備塊狀鋁箔樣品，途徑一是將樣品高溫加熱至熔融，然后冷卻使其凝結(jié)成塊狀；其二是通過機(jī)械外力作用把鋁箔壓制成結(jié)實(shí)的塊狀。前者對于分析一些易揮發(fā)性元素（As， Sn等）不利；此外，如果鋁箔樣品表面經(jīng)過鈍化等工藝處理，難于融結(jié)。本文用第二種方法制備樣品，并以激發(fā)時收集到的基體元素Al的光強(qiáng)來比較各種制樣方法的差異。

結(jié)果表明，由機(jī)械壓樣機(jī)破碎樣壓制制備的鋁箔樣品可勝任在直讀光譜儀上進(jìn)行快速分析，測定的結(jié)果與化學(xué)方法相一致，適合于日常檢驗(yàn)樣品量繁重的工廠、實(shí)驗(yàn)室、品質(zhì)檢驗(yàn)部門之樣品的制備及檢測。

鋼研納克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 檢測器

像素?cái)?shù)：3648+46 全行業(yè)較高

像素尺寸：8μm 全行業(yè)較小

精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N

萬級超凈環(huán)境下打造較優(yōu)光學(xué)系統(tǒng)

帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無像差，分辨率均勻

高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm， 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)較高

線分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系統(tǒng)，光電直讀光譜儀價格，再啟動耗時行業(yè)較低

潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)（關(guān)機(jī) 12 小時）啟動只需 30min，熱機(jī)啟動時間 5min

智能判斷分析間隔時間，合理補(bǔ)充氣，青海光電直讀光譜儀，降低氣消耗

60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氣 24 小時待機(jī) 70 天

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一次激發(fā)，分片曝光，同時采集，同時回?cái)?shù)

獨(dú)立控制不同 CCD 的積分曝光時間

提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的檢出限

隨波段調(diào)節(jié)積分時間，提升儀器的 穩(wěn)定性