直讀光譜儀其它因素影響

光電光譜檢測分析存在的誤差在所難免，要正確的認識誤差，查找誤差存在的原因，采取有效的措施消除誤差。光譜檢測分析誤差除受上面幾種因素的影響外，還有以下幾種因素的影響：

1.人的因素： ? ?操作者的質(zhì)量意識、責(zé)任意識、操作技術(shù)、水平高低、熟練程度等都會影響檢測的效果；

2.設(shè)備因素： ? ?比如設(shè)備的狀態(tài)是否優(yōu)良、是否定期檢測和維護，光源性能穩(wěn)定性如何，氬氣供氣系統(tǒng)是否穩(wěn)定，試樣加工設(shè)備狀況是否正常、是否對加工設(shè)備進行定期維護保養(yǎng)等，都會一定程度上影響檢測結(jié)果的準確性。

3.樣品試樣因素：比如待測試樣成分是否均勻，是否具有試樣的代表性，熱處理狀態(tài)和組織結(jié)構(gòu)狀態(tài)是否正常，標準試樣的成分和控制試樣的成分是否均勻，成分含量的標準值是否可靠，組織結(jié)構(gòu)是否統(tǒng)一、磨制樣品方法是否規(guī)范、效果是否有效等等，都是影響其檢測效果的關(guān)鍵因素。

4.分析方法因素：在分析方法上，分析曲線制作及擬合程度是否達標，標準化過程及效果是否，直讀光譜儀價格，控樣選擇是否規(guī)范，定值是否嚴格等等，都一定程度上影響著檢測效果。

5.環(huán)境因素：比如檢測所在分析室的溫度、濕度是否正常，受否受電磁干擾的影響，所處環(huán)境是否清潔衛(wèi)生，是否具備檢測要求的條件穩(wěn)定的操作環(huán)境，只有有了良好的檢測環(huán)境，才能為檢測結(jié)果的準確性提供保障。

光電光譜分析選用的分析線，必需符合下列要求

直讀光譜分析時，一般都采用內(nèi)標法。因內(nèi)標法進行分析時常采用多條分析線和一條內(nèi)標線組成，常用試料中的基體元素為內(nèi)標元素。組成的線對要求均稱，就是當激發(fā)光源有波動時，兩條線對的譜線強度雖有變化，但強度比或相對強度能保持不變。

如R表示強度比即

R=I1/I0

I1為分析線的強度，Io為內(nèi)標線強度，表明I1和Io同時變，而R則不受影響。R與含量C之間有線性關(guān)系。

在光電直讀光譜分析時，有很多分析通道，要安裝許多內(nèi)標通道有困難，因此采用一個內(nèi)標線。但有人認為再要提高光電光譜分析的準確度還得采用不同的內(nèi)標線，這還有待于光電轉(zhuǎn)換元件的小型化來解決。

光電法時，有時還用內(nèi)標線來控制曝光量，稱為自動曝光，也就是樣品在曝光時，分析線和內(nèi)標分別向各自積分電容充電，當內(nèi)標線的積分電容器充電達到某一預(yù)定的電壓時，自動截止曝光。此時分析線的積分電容器充電達到的電壓即代表分析線的強度I，并且亦即代表分析線的強度比R(因為R=I1/Io，而此時Io保持常數(shù))這個強度I或強度比R就由測光讀數(shù)所表示。

現(xiàn)在一般采用計時曝光法較為普遍。

直讀光譜儀

光譜儀在分析的過程中，電火花燃燒樣品表面會產(chǎn)生金屬粉塵，直讀光譜儀價格，大部分的金屬粉塵都會隨著氬氣吹掃排到過濾罐中，然而也會有少部分金屬粉塵會停留在激發(fā)室里，時間長了會堆積污染激發(fā)室和光學(xué)透鏡，引起測量數(shù)據(jù)波動，廣西壯族自治直讀光譜儀，誤差變大，所以需要定期的清理來改善激發(fā)室環(huán)境，改善測量數(shù)據(jù)。

光譜儀在使用的過程中，會有一部分金屬粉塵、金屬屑、灰塵掉落到儀器內(nèi)部電路模塊上，如果不及時清理可能會導(dǎo)致電路模塊短路，一些的電路板損壞維修費用會很高，所以需要及時的清理儀器內(nèi)部灰塵，保證電路的正常運行。

儀器使用年限長了后，直讀光譜儀廠家，儀器內(nèi)部一些器件會發(fā)生老化，這部分器件需要及時的發(fā)現(xiàn)更換，否則會引起嚴重的光譜儀故障。

化驗員在使用過程中可能會存在一些不規(guī)范的操作，這些操作可能會導(dǎo)致測試誤差，嚴重的誤操作也可能會導(dǎo)致光譜儀故障，的方式是能和的光譜工程師溝通交流，讓工程師發(fā)現(xiàn)化驗員的不規(guī)范操作，及時糾正，確保儀器的正常使用。