電感耦合等離子體質譜法測定地質樣品中的銣

銣屬稀散元素，在、航空航天、生物工程技術、醫(yī)學、能源和環(huán)境科學等領域有廣泛的應用［1］。銣量的檢測可為地質找礦、選礦冶金、材料加工等行業(yè)的生產(chǎn)研究以及醫(yī)學中疾病的診斷提供重要依據(jù)。目前，國內外分 析測試銣的方法主要有原子吸收光譜法'、原子發(fā)射光譜法'、X-熒光光譜法叵和中子活化法等，分析對象

涉及環(huán)境水樣和生物樣品，對地質礦樣中銣的分析尚鮮見報道。上述方法中除中子活化法外，其他方法的檢出限 均較高。現(xiàn)普及的原子吸收和發(fā)射光譜法分析銣時，須另加入鑭鹽，即便如此，對某些巖石、土壤樣品仍得出較

實際值偏高的結果。中子活化法檢出限雖低，但因儀器十分昂貴且性防護要求極高，使其難以普及。有關熔 融法-電感耦合等離子體質譜分析測試銣［9］的研究已有報道，但熔融法引入了大量鹽類，不利于電感耦合等離子 體質譜儀的測定，且大大影響了分析方法的檢出限。本文提出的酸溶-電感耦合等離子體質譜分析測試銣的方法， 具有準確度和精密度高，檢出限低，干擾少，分析流程簡單快速等特點。

質譜干擾對銣測定的影響

除了基體效應等非質譜干擾外，質譜干擾也是ICP-MS分析常遇到的問題。在ICP-MS分析中，即便極微量的 同量異位素的存在，也會干擾檢測結果。

銣有85Rb和87Rb兩種同位素，85Rb沒有同量異位素，但87Rb有同量異位素87Sr。事實上，地質樣品中常含鍶元素。

由于干擾元素鍶的兩個天然同位素87Sr和88Sr的豐度分別為已知7.02%和82.56%，且88Sr不存在同量異位素 的干擾，所以通過測量88Sr+離子流的強度進而求出87Sr+的離子流強度，然后再從所測得的87處的總離子流強度 中將87Sr+的離子流強度減去，即得87Rb+凈離子流強度。從而得出87Rb的校正公式為凈離子流87Rb=離子流(87Rb+87Sr) -(離子流 88Srx 7.02/82.56 )。

鋼研納克PlasmaMS 300 電感耦合等離子體質譜儀 ICP-MS擁有自主知識產(chǎn)權

軟件著作權

1.《Imass質譜軟件》V1.0.0，2015R11S240625

文章

1.《一種四級桿質譜儀真空測量系統(tǒng)及控制系統(tǒng)的研制》2017.2，期刊

2.《HPLC-ICP-MS 測定六種中藥中五種形態(tài)》，2016.10.北京光譜年會

3.《電感耦合等離子體質譜法測定鎳鎢合金中》2015.3.6，期刊

4.《不銹鋼薄板橫截面的激光剝蝕-電感耦合等離子體質譜原位統(tǒng)計分布分析》2013.10

5.《電感耦合等離子體四級桿質譜碰撞反應池技術現(xiàn)狀與發(fā)展》，2013.3，期刊

6.《電感耦合等離子體四極桿質譜離子光學系統(tǒng)的現(xiàn)狀和進展》2013.3，期刊

7.《激光剝蝕電感耦合等離子體質譜新進展》， 2012.3，期刊

8.《電感耦合等離子體法測量錳鋅》；2014，冶金分析

這些干擾要有效識別和消除 ICP-MS 質譜儀中的干擾，可以采取以下一些方法

干擾校正方程：通過建立干擾校正方程，利用已知的干擾元素和目標元素的關系，對干擾進行校正。

內標法：使用內標元素來監(jiān)測和校正信號的變化，以補償基體效應和其他干擾。

碰撞/反應池技術：利用碰撞/反應池來去除或降低多原子離子、分子離子等干擾。

選擇合適的質量數(shù)：避免選擇受到嚴重干擾的質量數(shù)，或者采用高分辨率質譜儀來區(qū)分干擾和目標離子。

優(yōu)化儀器參數(shù)：調整射頻功率、離子源氣體流量等參數(shù)，以減少干擾的影響。

樣品前處理：適當?shù)臉悠非疤幚矸椒梢匀コ蓴_物質，如稀釋、萃取、凈化等。

同位素比值測量：通過測量同位素比值，可以消除一些干擾的影響，并提供的分析結果。

質量篩選：利用質量篩選技術，只監(jiān)測特定質量數(shù)范圍內的離子，減少干擾的干擾。

數(shù)據(jù)處理方法：采用合適的數(shù)據(jù)處理軟件和算法，如背景扣除、平滑、校正等，來校正干擾。

標準加入法：通過添加已知濃度的標準物質到樣品中，國產(chǎn)ICP-MS質譜儀廠家，校正基體效應和干擾。

識別和消除干擾需要綜合考慮多種方法，并根據(jù)具體的分析需求和樣品特點選擇合適的策略。同時，定期進行質量控制和方法驗證也是確保干擾得到有效校正的重要步驟。