XRF光使氣體電離，在電場(chǎng)的作用下，電離后的電子和正離子分別向兩極運(yùn)動(dòng)，在電子向陽極的運(yùn)動(dòng)過程中逐漸被加速而獲得更高的動(dòng)能。這些電子與氣體分子碰撞時(shí)，將引起進(jìn)一步的電離，產(chǎn)生大量的電子涌到陽極，產(chǎn)生一.. 全文

XRF(1) 原子序數(shù)較低的元素（或基體）對(duì)能量較高的譜線吸收系數(shù)較低，因此厚度也就大一點(diǎn)(2) Sb的K線能量較高，能穿透更厚的樣品（相對(duì)本樣品中的其他元素的特征射線），所以飽和厚度也就比其他元素厚.. 全文

光譜儀分析 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問題,后再準(zhǔn)確定量。 全文

熒光光譜儀(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實(shí)際鍍層密度不同的話，.. 全文