熒光光譜(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實(shí)際鍍層密度不同的話，會(huì).. 全文

礦石元素分析儀是一種用于測(cè)定礦石中各種元素含量的儀器。為了滿足不同客戶的需求，可以對(duì)其進(jìn)行定制。首先，需要確定客戶的使用環(huán)境和樣品類型，然后根據(jù)這些信息選擇適合的儀器型號(hào)和技術(shù)參數(shù)。其次，根據(jù)客戶的特.. 全文

X射線熒光光譜(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實(shí)際鍍層密度不同的.. 全文

Compass 200注意事項(xiàng)如下：* 使用前檢查羅盤(pán)外觀是否完好，特別是磁針部分。若有裂痕或破損等情況請(qǐng)立即停止使用以免有危險(xiǎn)發(fā)生；同時(shí)確認(rèn)電源充足再行使用以防止意外情況的發(fā)生（無(wú)電時(shí)應(yīng)及時(shí)充電）。.. 全文