X熒光光譜儀X 射線是一種電磁波，波長比紫外線還要短，為 0.001‐ 10nm 左右。X 射線照射到 物質(zhì)上面以后，從物質(zhì)上主要可以觀測到以下三種 X 射線。熒光 X 射線、散射 X 射線、透過 X 射線，ESI英飛思NT 產(chǎn)品使用的是通過對一種熒光 X 射線的測定，從物質(zhì)中獲取元素信息（成分和膜厚）的熒光 X 射線法原理。物質(zhì)受到 X 射線的照射時，發(fā)生元素所固有的 X 射線（固有 X 射線或者特征 X 射線）。熒光 X 射線裝置就是通過對該 X 射線的檢測而獲取元素信息。

X熒光光譜儀(1) 工作曲線法就是利用標(biāo)準(zhǔn)樣品先建立一條標(biāo)準(zhǔn)的校正曲線，測試時再根據(jù)這個曲線計算測量結(jié)果。用已知濃度的幾個標(biāo)準(zhǔn)樣品測強度,得到一系列相應(yīng)的強度信號 ,強度和濃度對應(yīng)形成一系列的點,通過軟件擬合成一條標(biāo)準(zhǔn)曲線，測試樣品時,儀器測試到一個信號強度,對應(yīng)這條曲線,可以知道對應(yīng)的濃度. (2)標(biāo)準(zhǔn)工作曲線法相對 FP 法來說確度較高，但是由于儀器本身存在背景強度，導(dǎo)致低于背景強度的樣品出現(xiàn)負(fù)值，標(biāo)準(zhǔn)品及強度漂移影響曲線的度、曲線的檢出限及曲線上限問題。

X熒光光譜儀 (2) 測量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測，也可購買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個點可能有問題,后再準(zhǔn)確定量。